埃科光电2.5D成像系统，破解精密制造微缺陷检测难题

在高端精密制造领域传统2D视觉仅能捕捉平面色彩与轮廓信息无法识别微米级凹凸、浅划痕等形貌缺陷纯3D检测成本高、运算量大难以适配产线高速节拍。面对金属高反光、薄膜透光、纹理干扰、膜下异物等行业共性痛点埃科光电2.5D光度立体与相位偏折成像系统凭借自研算法与硬件深度融合为3C、锂电、半导体等行业提供轻量化、高精度、高效率的全新质检方案。核心技术优势光度立体与相位偏折双重路线埃科2.5D成像系统分为光度立体与相位偏折两大技术路线兼容穹顶光源、线光源、环形光源等多种照明方案可灵活适配线阵、面阵相机依托万兆网高速传输轻松支撑产线连续高速检测。光度立体成像系统通过控制多角度光源分时曝光结合自研算法重建被测表面的三维形貌信息相位偏折成像系统利用程控条纹投射与镜面反射原理高灵敏度地解析表面起伏引起的相位变化。独创并行方案微秒级极速计算核心技术层面系统打破传统“先采集后计算”的串行模式采用图像采集与算法并行处理架构实现微秒级图像处理延迟大幅减轻上位机运算压力匹配量产产线高节拍需求。多维图像输出灵活应对复杂场景内置十余种自研成像算法可实时输出纹理图、梯度图、形状图、光泽比图等多维度特征图像针对不同缺陷类型精准凸显细节搭载独家刀纹去除、缺陷增强算法可有效滤除金属加工纹理干扰精准区分背景纹路与真实凹坑、划痕从根源降低误检、漏检率。系统级灵活部署整套系统硬件配置灵活可根据视野、精度、速度需求自由选配镜头与光源轻量化易部署兼容各类新旧检测设备改造。锂电池全流程品质检测破解行业痛点电芯外观与顶盖检测精准检测方形铝壳电池表面的细微凹坑、划痕以及复杂顶盖表面的极柱划痕、防爆阀变形等异常即使在高速产线上也能保障实时处理精度。蓝膜及膜下异物检测除了检测蓝膜表面的破损、气泡与褶皱外搭配近红外IR分区光源系统更能直接穿透电池蓝膜准确识别出人眼难以分辨的膜下异物。极片表面缺陷检测极片产线节拍快缺陷类型多样。通过光度立体梯度和积分图可有效表征表面划痕、气泡等缺陷。埃科光度立体与相位偏折成像系统正在以其高速硬件计算技术和丰富的图像处理能力为3C、锂电、半导体等高端制造领域的自动化检测带来全新视界。关于埃科光电作为高端国产工业成像领导者埃科光电深耕工业机器视觉核心部件十余年坚持自主研发与技术创新构建起覆盖光、机、电、算、软的全栈技术体系持续突破高端成像技术壁垒产品线覆盖线扫描相机、大幅面阵相机、小幅面相机、图像采集卡及智能光学单元产品广泛应用于新型显示、半导体、新能源、电子制造等国家战略产业服务京东方、宁德时代、精测电子等行业头部客户以过硬品质与专业服务赢得全球市场认可。